基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究

›› 2009, Vol. 31 ›› Issue (5): 861-863, 860.

基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究

王昶辉朱敏杨春玲

哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院，哈尔滨150001

出版日期:2009-10-25 发布日期:2013-07-17

Online:2009-10-25 Published:2013-07-17

摘要/Abstract

摘要：

本文通过对电路板可测性设计技术的广泛研究，提出基于板级BIST技术的可测性设计方法，在此基础上设计和研制了具有可测性的板级数模混合电路验证样机。该样机采用分块监测，逐级诊断的故障诊断策略，采用模块和元件两级故障定位方法，验证平台的测试实验表明分级监测的可行性，指明了可测性设计和内建自测试技术的研究新思路。

关键词: 可测性设计, 数模混合电路, 故障诊断, 内建自测试

中图分类号:

TP206+.3

王昶辉朱敏杨春玲. 基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究[J]. , 2009, 31(5): 861-863, 860.

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基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究

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